Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych podejmuje się realizacji zaawansowanych zagadnień pomiarowych z dziedziny inżynierii mechanicznej oraz interdyscyplinarnych pomiarów wielkości geometrycznych.

Metrologia to nauka o pomiarach. Nasz Zakład dąży do ciągłego doskonalenia metod pomiarów. Kształcimy Studentów z zakresu podstawowego miernictwa z zastosowaniem prostych przyrządów pomiarowych tj. suwmiarki, mikrometry zwykłe oraz specjalne, transametry, średnicówki, wysokościomierze. Wdrażamy dobre praktyki pomiarowe oraz tak zwaną kulturę techniczną wśród wszystkich Studentów kierunków mechanicznych Politechniki Poznańskiej. Zapoznajemy ich również z zaawansowaną metrologią począwszy od wyznaczania charakterystyk przetworników pomiarowych poprzez technikę współrzędnościową, termowizję oraz optronikę i konstrukcje laserów. 

Od początku swej działalności Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych aktywnie rozwija działalność badawczą. Założycielem i pierwszym kierownikiem Zakładu był prof. Jan Chajda, który inicjował i rozwijał badania z zakresu metrologii wielkości geometrycznych – głównie kół zębatych oraz stereometrii powierzchni i błędów kształtu, techniki współrzędnościowej, diagnostyki termalnej i inżynierii jakości.

Obecny kierownik - prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski, kontynuuje obraną przez swego poprzednika i mentora ścieżkę oraz poszerza działalność Zakładu o wiodące zagadnienia nurtujące współczesnych metrologów osadzone na gruncie stricte naukowym, ale również stanowiące odpowiedź na potrzeby lokalnego oraz globalnego przemysłu. 

Laboratoria ZMiSP mogą pochwalić się imponującą infrastrukturą o bardzo zróżnicowanej specyfice. Znajdują się w nich urządzenia pozwalające na multiskalową analizę geometrii elementów. Maszyny współrzędnościowe o wysokiej dokładności oraz skanery 3D umożliwiające digitalizację elementów przestrzennych. Ramię pomiarowe, mikroskopy oraz wysokościomierze warsztatowe, a także urządzenia multisensorowe, które pozwalają na pomiar elementów o złożonej geometrii. Tomograf komputerowy, który umożliwia prześwietlenie elementów i analizę geometrii obszarów niedostępnych dla klasycznych systemów pomiarowych. Urządzenia specjalizowane do pomiaru błędów kształtu, urządzenia stykowe i optyczne do pomiaru powierzchni w skali mikro i nano. 
Rozbudowane zaplecze badawcze wyposażone w kamery termowizyjne pasywne oraz aktywne z szerokim spektrum wzbudników umożliwia diagnostykę termalną zarówno dla pojedynczych obiektów, jak i większych układów czy konstrukcji. 

Laboratorium Optroniki prowadzi interdyscyplinarne badania z zastosowaniem mikroskopii holograficznej i szerografii, ale dodatkowo testuje i opracowuje własne konstrukcje laserowe.

W obszarze zainteresowań Zakładu znajdują się następujące aspekty: •    pomiary nierówności powierzchni i błędów kształtu  •    tomografia komputerowa •    projektowanie i badania zintegrowanych czujników pneumatycznych i piezoelektrycznych •    pomiary współrzędnościowe, algorytmy i programy pomiarowe, zależności dokładności pomiarów od ilości punktów pomiarowych, inżynieria odwrotna (RE) •    systemy sterowania jakością i SPC •    projektowanie i modelowanie właściwości metrologicznych systemów teledetekcji termalnej •    diagnostyka termalna  •    laserowe systemy pomiarowe •    pomiary holograficzne oraz szerografia

Osiągnięcia ZMiSP

Patenty:

1. M. Wieczorowski, K. Pollak, Cz. J. Jermak, M. Jakubowicz, Urządzenie do pomiarów metodą odniesieniową zarysów okrągłości powierzchni wewnętrznych tulei cylindrowych, P.408003 data zgłoszenia 25.04.2014; PL 408003 data publikacji 26.10.2015; PL225970 (B1) data udzielenia 30.06.2017, Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej.
2. M. Wieczorowski, K. Pollak, Cz. J. Jermak, M. Jakubowicz, Głowica do pomiaru odchyłki okrągłości wewnętrznych powierzchni walcowych metodą stykową i bezstykową, P.408004 data zgłoszenia 25.04.2014; PL 408004 data publikacji 26.10.2015; PL225971 (B1) data udzielenia 30.06.2017, Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej.
3. M. Jakubowicz, Cz. J. Jermak, Głowica do pomiaru odchyłki okrągłości metodą odniesieniową, powierzchni walcowej wewnętrznej, P.403746 data zgłoszenia 02.05.2013; PL 403746 data publikacji 10.11.2014; PL 225447 (B1) data udzielenia 28.04.2017, Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej.
4. M. Jakubowicz, Głowica do pomiaru średnicy i odchyłki okrągłości metodą odniesieniową wewnętrznej powierzchni walcowej, P.402729; data zgłoszenia 11.02.2013; PL 402729 data publikacji 18.08.2014; PL 224761 (B1) data udzielenia 31.01.2017, Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej.
5. D. Kucharski, F. Meijer, E. Stachowska, J.C. Jermak, Sposób bezstykowego pomiaru odchyłki kształtu metodą interferometryczną, Numer PAT 1667, Numer prawa ochronnego 226387, 2013. 

Nagrody za wyróżniające się prace dyplomowe zrealizowane z ZMiSP:

1. Mgr inż. Patryk Mietliński, Projekt strategii szkoleniowych do automatyzacji trójosiowego manipulatora, II miejsce w Konkursie o nagrodę Dziekana Wydziału Inżynierii Mechanicznej za wyróżniające się pracę dyplomowe. 
2. Mgr inż. Patryk Mietliński, Projekt strategii szkoleniowych do automatyzacji trójosiowego manipulatora, Wyróżnienie w Konkursie na wyróżniającą się pracę dyplomową w obszarze techniki oraz organizacji produkcji i usług, Organizator Federacja Stowarzyszeń Naukowo-Technicznych NOT Rada w Poznaniu 
3. Mgr inż. Maciej Kuźnik,Projekt fantomu ruchu oddechowego przeznaczonego do weryfikacji poprawności dostarczanej dawki promieniowania w systemie CyberKnife, II miejsce w Konkursie o nagrodę Dziekana Wydziału Inżynierii Mechanicznej za wyróżniające się pracę dyplomowe.

Inne:

1. Nagroda JM Rektora Politechniki Poznańskiej za osiągnięcia organizacyjne uzyskane w roku akademickim 2019/2020 
2. Nagroda zespołowa I stopnia JM Rektora Politechniki Poznańskiej za osiągnięcia naukowe w roku 2020.
3. Artykuł M. Jakubowicz Accuracy of roundness assessment using air gauge with the slot-shaped measuring nozzle, Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO), vol. 155, 2020, był najczęściej pobieraną publikacją wg wydawnictwa Elsevier w pierwszym kwartale 2020 roku.