Metody wieloskalowe w metrologii powierzchni
Topografia powierzchni wpływa na szereg zjawisk mających związek z interakcją tej powierzchni z otoczeniem. Jednocześnie większość procesów wytwarzania kształtuje topografię powierzchni. Topografia składa się z indywidualnych cech fizycznych o różnej wielkości (pęcherze, rowki, mikrokratery itp.), i często wydaje się być inna, gdy obserwuje się ją w różnych skalach pomiaru. Stąd też wynika potrzeba rozważań wieloskalowych.